光ファイバ変位センサの動作原理

京大理ワーキング・ワーキング原則京大理光エレクトロニクスファイバー& nbsp ;変位量光ファイバのプローブ端が技術的な試験片に近接しているとき、センサ

は、送信ファイバ内の光及び／又はTは受光ファイバに反射され、光電流信号CAN＆CANKtときに出て生成される測定された表面が光ファイバプローブから次第に遠ざかると、測定光面上の透過光ファイバによって照射された領域が大きくなり、対応する透過光円錐の領域B 1と受光用光重量台が大きくなる。受信光ファイバの端面の明るいB 2領域も大きく、したがって、プローブの変位と直線的に増加する出力信号がある全体の受信ファイバの端面が完全に照らされるとき、ライトピークポイント変位出力信号曲線光ピーク点以前の曲線を前勾配領域と呼ぶ。測定された表面がプローブから遠ざかると、反射光によって照射されたB 2の面積がCよりも大きいため、すなわち反射光の一部が受光光ファイバに反射されず、受光光が測定面から離れるにつれて受光強度が低下する。従って、感光体検出器の出力信号は徐々に弱くなり、曲線のバックスロープ領域に入る。背面傾斜領域のは、信号強度はプローブと測定表面との間の距離の二乗に反比例する。変位出力曲線の前傾領域のでは、出力信号の強度は非常に速く増加するので、この領域はマイクロメータ変位測定に使用することができる。バックスロープ領域は、長距離と低感度、直線性と精度で測定するために使用することができます。いわゆるピーク領域のでは、光強度の変化に対する出力信号の感度は、ビット遷移に対する感度よりもはるかに大きいので、この領域は、表面状態の光学測定に使用することができる。照明及び受光用光ファイバの配置モードは、主にランダム分布、インライン外部光分布、インライン内部光分布及び半半分布である。光ファイバ圧力センサの動作原理は光ファイバ変位センサと同様である。光源から発せられた光は、光ファイバから伝送され、ダイアフラムの内面に投影され、反射された後、受光用光ファイバで受光され、受光素子に戻され、ピークの位置が変化し、出力信号が変化する。光ファイバ変位センサと比較して、圧力の作用によるダイヤフラムのたわみによる突出位置の僅かな変化が生じ、光束は横隔膜重量の形状とプローブからダイヤフラムまでの平均距離の関数となる。